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中国特检院组团参加第18届世界无损检测大会
中国特种设备检测研究院门户网站 www.csei.org.cn 2012-12-09 20:09:19 来源: 中国质量报
      4月15日至20日,第18届世界无损检测大会(18thWCNDT,4年一次)、国际标准化组织无损检测技术委员会大会(18thISO TC135,两年一次)和国际无损检测委员会(ICNDT)2012工作会议在南非德班召开。中国特检院副院长沈功田带队,一行4人参加了此次国际无损检测行业的重大活动。
      沈功田代表中国无损检测学会参加了ICNDT2012年工作会议、18thWCNDT会议和APCNDT(亚太无损检测大会)2012年工作会议的各项议程,并代表中国无损检测标准化委员会全程参加了18th ISO TC135全体会议,以及SC6(泄漏)、SC8(红外)和SC9(声发射)3个分委员的工作会议。在SC8工作会议上,为推进由中国特检院牵头提出已于4月4日得到立项的一项标准的制定工作,成立了红外仪器设备标准工作组,沈功田任组长;在SC6工作会议上,沈功田被指定为一项标准起草组的专家。在本次活动中,胡斌等投递的论文被18thWCNDT录取,并作了大会报告,主要介绍了焊接残余应力的磁信号特征及评价方法,该报告引起了多位与会专家的关注和讨论。